Rayons X et matière
RX 2006

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Langue : Français

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Date de parution :
Ouvrage 298 p. · 15.4x23.6 cm · Broché
ISBN : 9782746213852 EAN : 9782746213852
Éditions Lavoisier

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Cet ouvrage collectif présente un état des lieux des différents aspects de l'étude de la matière condensée au moyen de l'analyse de son interaction avec les rayons X. Il fait suite à la tenue à Limoges en février 2006, du colloque Rayons X et Matière - RX 2006 et rassemble les contributions de spécialistes invités. Physiciens, chimistes, mécaniciens font une revue à caractère pédagogique de leur discipline, autour de problèmes liés à l'utilisation des rayons X. Les domaines scientifiques étudiés concernent la diffusion ou la diffraction des rayons X. Ils portent sur l'analyse quantitative par diffraction des rayons X, l'ordre-désordre et la diffusion diffuse, l'instrumentation, la mécanique des matériaux, l'analyse microstructurale par diffraction.
Systèmes optiques pour la définition du faisceau X -S. Rouzière. Applications des différents types de détecteurs à la diffraction des rayons X pour l'analyse structural des matériaux -P. Bordet. La diffraction résolue en temps : un outil indispensable pour déterminer les mécanismes des réactions auto-entretenues -F. Bernard. Diffraction des rayons X et analyse quantitatives des phases. Application in situ et sur site dans les industries de traitement des minerais -I.-C Madsen, N.-V.Y Scarlett, traduit de l'anglais par Ph. Goudeau. Les contraintes résiduelles : d'où viennent-elles ? Comment les caractériser ? -T. Bretheau, O. Castelnau. Évaluation des déformations induites par les contraintes thermiques dans des composants électroniques par diffraction des rayons X -A. Declémy, P.-O. Renault. Étude des microstructures par diffusion de rayonnements -G. Kostorz, relu par Ph. Goudeau. Caractérisation microstructurale de poudres nanocristallines par diffraction des rayons X : Approches traditionnelles et modélisations -D. Louër, N. Audebrand. Quelques exemples de diffraction des rayons X dans les polymères -P.-A. Albouy. Étude par diffraction des rayons X de la microstructure de couches épitaxiées imparfaites -A. Boulle, R. Guinebretière, F. Conchon, R. Bachelet, A. Dauger.
  • Philippe Goudeau est directeur de recherche au CNRS et responsable de l’équipe propriétés mécaniques des films minces au LMP (Poitiers). Ses recherches concernent l’étude des effets de taille sur les propriétés mécaniques des films minces par diffraction des rayons X en laboratoire et sur des sources synchrotrons.
  • René Guinebretière est professeur en physique des matériaux à l’ENSCI de Limoges. Il enseigne la radiocristallographie et effectue ses recherches sur l’élaboration et la caractérisation par diffraction des rayons X de nanomatériaux oxydes au sein du laboratoire SPCTS associé au CNRS.