Lavoisier S.A.S.
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Recherche sur le thème Métrologie généralités :

Nous trouvons 11 ouvrages correspondant à Métrologie généralités

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  1. Couverture de l'ouvrage Contrôle machines-outils (Réf : 9Q285)
    Auteurs : CHAINTREUIL Thierry, SESSA Pascal, VINCENT Rénald
    Langue : Français
    08-201652 p.21x29.8 cmQuadrichromie
    ISBN : 9782368940839 cetim
    Le Cetim s'est récemment équipé d'un nouvel outil, le laser-tracer, pour le contrôle et la calibration des machines-outils et machines à mesurer 3D. Dans le présent rapport, les auteurs analysent...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 5 jours).
    Broché 100,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  2. Couverture de l'ouvrage Imagerie des milieux naturels et artificiels : de l'instrument à l'algorithme (Instrumentation Mesure Métrologie, volume 12 N° 1-2/Janvier-juin 2012)
    Auteur : JOUBERT Pierre-Yves
    Langue : Français
    07-2012223 p.16x24 cm
    ISBN : 9782746239616 lavoisier edition
    Réalisation de micro-antennes souples implantables pour l'imagerie par résonance magnétique du petit animal, M. Couty, J. Ginefri, M. Woytasik, A. Rubin, E. Martincic, M. Poirier-Quinot, L...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 130,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  3. Auteurs : THOMAS Jean-Hugh, YAAKOUBI Nourdin
    Langue : Français
    01-2012184 p.16x24 cm
    ISBN : 9782746238848 lavoisier edition
    Élaboration de microélectrodes par techniques originales basées sur la "lithographie douce" , S. Cotte, A. Baraket, F. Bessueille, S. Gout, N. Yaakoubi, D. Léonard, A. Errachid - pp.9-26...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 129,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  4. Couverture de l'ouvrage Mesures en environnement et agroalimentaire (Instrumentation Mesure Métrologie Volume 11 N° 1-2/Janvier-Juin 2011)
    Auteurs : DEBARNOT Dominique, ERRACHID Abdelhamid
    Langue : Français
    06-2011190 p.16x24 cm
    ISBN : 9782746238435 lavoisier edition
    Toxint'patch: a briefcase-sized system for toxin detection using planar patch-clamp. Validation of an integrated and automated patch clamp device, A. Boussaoud, N. Picollet-D'Hahan - pp.9-29...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 129,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  5. Couverture de l'ouvrage Métrologie en sciences de la terre (Instrumentation Mesure Métrologie Volume 10 N° 3-4/Juillet-Décembre 2010)
    Auteurs : CALI José, LE MENN Marc
    Langue : Français
    12-2010166 p.16x24 cmQuadrichromie
    ISBN : 9782746232419 lavoisier edition
    Techniques de mesures in situ en océanographie physique. Présentation et évolutions, M. Le Menn - pp.9-29 . Vers une nouvelle instrumentation en sismologie, R. Pillet - pp.31-57 . Développement...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 125,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  6. Couverture de l'ouvrage Méthodes innovantes en contrôle non destructif (Instrumentation, Mesure, Métrologie Vol. 10 N° 1-2/Janvier-Juin 201)
    Auteurs : ROYER Daniel, BENTAHAR Mourad
    Langue : Français
    06-2010196 p.16x24 cm
    ISBN : 9782746231061 lavoisier edition
    Capteur capacitif pour le contrôle non destructif de conduits de précontraintes dans les ouvrages d'art. Modélisation, mesures et estimation des paramètres internes à la gaine, T. Bore, D...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 125,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  7. Couverture de l'ouvrage 13° congrès international de métrologie, Lille, 18-21 juin 2007 (Performances, 9Q86)
    Langue : Français
    04-200826 p.21x30 cm
    ISBN : 9782854008234 cetim
    Organisé tous les deux ans par le Collège français de métrologie, la 13e édition du Congrès international de métrologie s'est tenue à Lille du 18 au 21 juin 2007. Un événement marqué par la...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 5 jours).
    Broché 25,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  8. Couverture de l'ouvrage 12° congrès international de métrologie, Lyon, 20-23 juin 2005 (Performances, résultats des actions collectives, 9Q21)
    Langue : Français
    05-200622 p.21x30 cm
    ISBN : 9782854007312 cetim
    Le Congrès international de métrologie est organisé tous les deux ans par le collège français de métrologie. L'objectif est de faire le point sur les techniques d'étalonnage et de mesure...
    Disponible chez l'éditeur (délai d'approvisionnement : 5 jours).
    Broché 25,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  9. Couverture de l'ouvrage 11° congrès international de métrologie: Toulon, 20-23 octobre 2003 (Performances résultats des actions collectives, 9P64)
    Langue : Français
    04-200526 p.21x30 cm
    ISBN : 9782854006360 cetim
    Le congrès international de métrologie est organisé tous les 2 ans par le Collège français de métrologie, avec la participation du Bureau national de métrologie. En 2003, la manifestation a connu...
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 25,36 € Ajouter au panierAjouter au panier
  10. Couverture de l'ouvrage Comptes rendus Académie des sciences, Physique, tome 5, fasc 8, Octobre 2004 : fundamental metrology / Métrologie fondamentale
    Langue : Anglais, Français
    10-2004148 p.19x26 cm
    ISBN : 9782848758565 LAVOISIER diffusion
    En stock : expédition en 24h !
    Broché 31,00 € Ajouter au panierAjouter au panier
  11. Couverture de l'ouvrage Analyse industrielle T2 (instrumentation industrielle Vol 3)
    Auteur : CERR Michel
    Langue : Français
    06-19971474 p.
    ISBN : 9782852069992 lavoisier edition
    Les deux tomes de cet ouvrage s'adressent aux spécialistes de l'analyse et des mesures, ingénieurs de procédés, exploitants, étudiants, etc, des laboratoires, usines, conseils en ingéniérie...
    En stock : expédition en 24h !
    Relié 217,00 € Ajouter au panierAjouter au panier